
年公務人員特種考試警察人員、一般警察人員、
國家安全局國家安全情報人員考試及110年特種考試
交通事業鐵路人員、退除役軍人轉任公務人員考試試題
※注意:可以使用電子計算器。
不必抄題,作答時請將試題題號及答案依照順序寫在試卷上,於本試題上作答者,不予計分。
本科目除專門名詞或數理公式外,應使用本國文字作答。
代號:
頁次:
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一、請說明四點探針量測半導體特性之架構並說明為何做此安排。(10 分)
二、在化學氣相沉積(CVD)方法中反應溫度與成長速率有那兩種關係反應
出其成長機制?請解釋此兩種之意義?又那一種為 CVD 成長較希望控
制之成長機制,為什麼?(15 分)
三、某一直接能隙(1.42 eV )之化合物半導 體 平衡時之載子濃度
nn0=1016/cm3,照光時每 μsec 產生電子電洞對 1013/cm3,如果少數載
子生命週期是 2 nsec,請計算 quasi-Fermi level,並畫出照光前後能隙
Fermi level 之變化。此材料之本質濃度為 ni= 2.25106/cm3。(25 分)
四、請畫出 pn 同質接面之發光二極體(LED)平衡時與順向偏壓之能帶圖
(10 分),請說明發光區域主要在 LED 之何處並說明原因。(10 分)
五、請畫出PMOS 場效電晶體結構,並說明如何將此場效電晶體開啟(turn on)
與關閉(turn off)。(15 分)
六、為什麼在矽局部氧化形成時,氧化薄膜會向矽基板內生長?請計算其比
例(以未成長時之表面當參考位置)。(15 分)