106年 鐵路特考 高員三級 電子工程 半導體工程 試卷

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106年公務人員特種考試警察人員一般警察
人員考試及106年特種考試交通事業鐵路
人員、退除役軍人轉任公務人員考試試題 代號:70680 全一頁
考試別 鐵路人員考試
等別 高員三級考試
類科別 電子工程
科目 半導體工程
考試時間 2 小時
※注意:
可以使用電子計算器。
不必抄題,作答時請將試題題號及答案依照順序寫在試卷上,於本試題上作答者,不予計分。
(請接背面)
一、假如一半導體均勻照光時有一均勻之載子產生速率 G在穩態下求半導體電導σ
之改變量 Δσ20 分)
對一純矽塊樣本由一邊摻雜施體donor其濃度分布為 ND = Noexp-axND >> ni
在平衡狀態下推演內建電場 E(x)。若 a = 1 μm-1計算內建電場 E(x)ni為矽之本
質濃度)20 分)
一操作在主動區之正負正雙載子電晶體(p+-n-p bipolar transistor,畫出射極(emitter
基極(base、汲極(collector)區之少數載子分布圖。20 分)
四、有兩個金氧半MOS)元件除氧化層厚度不同外特性相同,高頻電容-電壓量測產生
之電容最大值與最小值之比值為 42根據這些數據計算氧化層厚度比矽介電
常數 εs11.9εo,氧化層介電常數 εox 3.9εo,真空之介電常數為 εo20 分)
五、作答並解釋:
熱氧化法生長二氧化矽膜使用濕氧化法或乾氧化法之生長速率何者較高?4分)
使用乾氧化法生長二氧化矽膜,初期生長之膜厚與時間之關係為何?在二氧化矽
膜初期生長時,111)或(100)之矽晶圓上之生長速率何者較高?(8分)
使用乾氧化法生長一定厚度二氧化矽膜後生長之膜厚與時間之關係為何?在二氧
化矽膜具一定厚度時,111)或(100)之矽晶圓上之生長速率何者較高?(8分)
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