加載中. ..
PDF
114年公務人員高等考試三級考試試題
類 科
：
輻射安全
科 目
：
輻射度量
考試時間
：
2
小時
座號
：
※注意：可以使用電子計算器。
不必抄題，作答時請將試題題號及答案依照順序寫在試卷上，於本試題上作答者，不予計分。
本科目除專門名詞或數理公式外，應使用本國文字作答。
代號：
2
8850
頁次：
2
－
1
一、一未知核種 X的衰變結構如圖（一）所示，
圖（一）
請說明此 X核種是那一種衰變（decay）並說明此衰變？此 X核種衰
變時釋出粒子的最大能量是多少 keV？（15 分）
將此 X核種製成適當活度的點射源，並置於鉛屏蔽內的碘化鈉偵檢器
表面，所量測到的能譜如圖（二），請說明圖中①至⑥箭頭標示區域能
譜特徵的形成原因。（12 分）
圖（二）
代號：
28850
頁次：
2
－
2
二、一表面污染偵檢器，偵測窗面積 100 cm2，計測時間設定訂為 10 s，此偵
檢器對 β粒子的偵測效率經校正得 0.5 counts/β，其標準不確定度是
10%，以此偵檢器量測 2個月前疑似受 Sr-90 均勻污染之桌面，若背景
計數值是 121，量測污染桌面之計數值（未扣除背景）是 196，β射源污
染桌面的射源效率（向上射出的 β粒子數／核種產生的 β粒子數）是
0.5。若量測品質目標是將偽陽性率（false-positive probability）及偽陰性
率（false-negative probability）皆設定在不大於 5%，請計算：
此表面污染偵檢器的最低可測淨計數率是多少 counts/s？（10 分）
桌面 Sr-90 活度量測結果及其標準不確定度是多少 Bq/cm2？（15 分）
註：Sr-90 半衰期 28.8 年，其子核種 Y-90 半衰期 2.7 天。
三、一薄膜射源含有 Am-241（每次衰變釋出 1個α粒子）與 Cl-36（每次衰
變釋出 1個β粒子），此兩核種自薄膜射源表面釋出的帶電粒子皆為每
秒1000 個，將此薄膜射源置入一「4π無窗充氣式比例計數器」中，此
比例計數器對帶電粒子的偵測效率是100%且對光子不敏感。（每小題 10
分，共 20 分）
請繪出此射源條件下，比例計數器操作電壓曲線（以每秒計數率為縱
軸，電壓為橫軸）並說明此曲線。
若此薄膜射源對 Am-241 的α粒子的射源效率是 0.5，對 Cl-36 的β粒
子的射源效率是 0.8，且此比例計數器量測系統有非麻痺型
（nonparalyzable）無感時間 10 μs，請問此薄膜射源中 Am-241 及
Cl-36 的活度各為幾 Bq？
註：射源效率=（自射源表面射出的粒子數／射源內核種衰變產生的粒
子數）。
四、列舉兩種氣體，可作為慢中子量測的比例計數器，並說明其工作原理。
（10 分）
五、一理想 Cs-137 點射源，置於半徑 3 cm 的半導體偵檢器正前方 30 cm 處。
已知此量測條件下，偵檢器對 Cs-137 的662 keV 加馬射線的固有能峰效
率（intrinsic peak efficiency）是 10%。
請計算 662 keV 能峰的絕對計測效率（以百分比表示，計算過程及結
果皆取到小數點下第 3位）。（10 分）
若在 1000 秒的計測中，收集到的能峰面積是 8500 個計數，請計算
Cs-137 射源的放射活度。（8分）
註：662 keV 加馬射線的分支比（每次衰變射出的加馬射線數）= 0.85