114年初級電磁相容工程師考試樣題

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郭婉如
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114 年初級電磁相容工程師能力鑑定-考試樣題公告
114.01
科目
評鑑
主題
代碼
評鑑
主題
名稱
評鑑內
容代碼
評鑑內容名稱
公告樣題
L11
電磁
相容
概論
L111
數位
訊號
之頻
譜分
(
域與
頻域
轉換)
L11101
傅立葉轉換基
(C)
若有一線性系統,輸入為 X(t),輸出為 Y(t),則下列描述何者有錯誤?
(A) kX(t)=kY(t),k (B) X_1 (t)+ X_2 (t)=Y_1 (t)+Y_2 (t)(C)
kX(t)=kY^2 (t),k 為常數;(D)以上皆錯誤
(D)
對於一個週期訊號為 1 ns 的完美方波訊號,請問其對應的頻譜為?
(A) 1 GHz(B) 3 GHz(C) 5 GHz(D) 以上皆是
(D)
若上圖為某訊號之頻域函數(其封包為 sinc 函數),則其時域函數應為?
(A)正弦波;(B)三角波;(C)單一方波;(D)週期性方波
振幅
頻率
(A)
某週期性方波的振幅大小為 A,週期為 T,工作週期為 50%,求其傅立葉
轉換後在頻域中之直流振幅大小為
(A) A/2(B) A/T(C) A/2T(D) 2A/T
(C)
一時脈訊號波形,頻率為 50 MHz,工作週期(Duty cycle) = 50%,上升時
= 2 ns,下降時間 = 2.05 ns,傅立葉轉換至頻譜的現象何為?
(A0 MHz 的奇數高次諧波峰值能量存在;(B)50 MHz 的偶數高次諧波峰
值能量存在(C)50 MHz 的奇偶高次諧波峰值能量存(D 以亂數峰值能
量存在
(D)
下列何者對於傅立葉轉換的描述正確?
(A)將時域信號轉換到頻域(B)信號的頻寬是該信號所含有的弦波成分
的頻率範圍(C)不論時域信號是否為週期性皆可由無數的弦波相加而成
(D)以上皆正確
L11102
數位波形週
期、工作週
期、上升/下降
時間與頻譜之
關係
(A)
若有一採用 50%工作週期之 1MHz 訊號,上升時間 τ_r=20ns,下降時
間為 τ_f=20ns,請問在什麼頻率開始,會以 40dB/decade 幅度衰減?
(A) 15.9MHz (B) 7.95MHz (C) 1MHz(D) 31.8MHz
(B)
假設週期訊號週期為 1 ns工作週期(duty cycle) = 50%。若
r
T
=
f
T
= 0.1 ns
則以下何者頻率不可能出現在頻譜上?
(A) 1 GHz(B) 2 GHz(C) 3 GHz(D)以上皆會出現
(D)
上圖(a)為一個數位時脈訊號,其振幅𝐴 = 2,狀態 On 的持續時間 𝜏 =
2s,週期 𝑇 = 4s,上升時間與下降時間相同 𝜏𝑟= 𝜏𝑓= 0.1s,圖(b)為其頻
譜包絡圖,求第一個轉折點𝑃2的位置?
(A) 0.02 Hz(B) 0.04 Hz(C) 0.08 Hz(D) 0.16 Hz
(A)
一個具有週期為 10ns, 工作週期為 50%, 上升/下降時間為 1ns 之週期性方
波,其波德圖中-40dB/decade 的起始頻率點為?
(A) 318.3 MHz(B) 31.8 MHz(C) 63.7 MHz(D) 637 MHz
(B)
對於數位波形特性描述,何者有誤?
(A) 數位信號所有頻率成分的最小頻率稱為「基礎頻率(Fundamental
Frequency)」; (B)數位信號轉折頻率與信號上升或下降時間無關(C)數位信
號大部分的能量集中在第二轉折頻率以下;(D)以上皆正確。
(C)
下圖敘述何者有誤?
(A)基頻頻率為 1/T(B)上升時間為 τr(C)工作週期為 T/2(D)穩態電壓為
A
L112
電磁
雜訊
耦合
基礎
原理
L11201
傳輸線效應(
效模型等)
(A)
關於電容性及電感性耦合現象描述何者正確?
(A)屬於近場耦合問題(B)屬於遠場輻射問題(C)屬於聲音放大問題(D)
以上皆正確
(C)
有一交流訊號(正弦波)消耗在一 50Ω電阻上的功率為 -10 dBW,則此訊號
的峰值電壓為?
(A) 1 V(B) 2.24 V(C) 3.16 V(D) 5.80 V
(A)
如何降低 PCB 板上的共模訊號(common mode noise)
(A)提高共模回路(common mode loop)阻抗平衡設計;(B)
(common mode loop)接地阻抗(C)避免接到大型接地面;(D)移除隔離路徑
(D)
傳輸線設計於 50 Ω 時,負載為一電容,其反射訊號與阻抗會如何變化?
(A)同相位反射,高阻抗;(B)同相位反射,低阻抗;(C)反相位反射,高阻
抗;(D)反相位反射,低阻抗
(D)
決定一系統是分佈式(distributed)或是集總式 (lumped)主要的特性為:
(A)流經該系統信號上升時間;(B)系統物理尺寸;(C)佈對於傳輸線路串擾
耦合干擾描述線長度與上升沿有效長度;(D)以上皆正確
(B)
若有一無損耗傳輸線,其特徵阻抗為?
(A) (C/L)(B) (L/C)(C) (L+C)(D) (LC)
L11202
EMI 輻射基礎
原理(共模與差
模輻射)
(A)
將一個帶正電的物體靠近一個孤立(isolated)未帶電未與外界連接的導體
後,請問此孤立導體會帶何種電極性?
(A)未帶電;(B)帶正電;(C)帶負電;(D)不一定
(A)
請問共模輻射強度與頻率的關係?
(A)隨頻率呈現 20dB/decade 上升(B)隨頻率呈現 20dB/decade 下降(C)
頻率呈現 40dB/decade 上升;(D)隨頻率呈現 40dB/decade 下降
(C)
下圖為兩互相耦合傳輸線路及其等效電路,下列何者為正確奇模態阻抗公
式?
(A)𝑍𝑜𝑑𝑑 =𝐿11+𝐿21
𝐶11+𝐶𝑚(B)𝑍𝑜𝑑𝑑 =𝐿11+𝐿21
𝐶11−𝐶𝑚
(C)𝑍𝑜𝑑𝑑 =𝐿11−𝐿21
𝐶11+𝐶𝑚(D)𝑍𝑜𝑑𝑑 =𝐿11−𝐿21
𝐶11−𝐶𝑚
i
1
i
2
v
1
v
2
C
m
C
g1
C
g2
L
11
L
22
k
=
Lm
L11
+
L22
(D)
有一共模訊號
ˆC
I
如圖所示並傳遞於線路上,則其輻射強度
ˆC
E
的頻率響
應為下列何者? (數字後之單位為 dB)
(A) (B) (C) (D)
(B)
對於互相串擾之傳輸線特性描述,何者有誤?
(A)奇模態特性阻抗比偶模態特性特性阻抗小(B)奇模態傳播速度比偶模
態傳播速度慢(C)奇模態有效電氣長度比偶模態短(D)耦合因子與耦合長
度會改變奇偶模態阻抗
L113
波、
L11301
濾波器基礎原
(A)
請依照下圖所示,試問該圖為何種濾波器類型?
0 dB/decade
-20 dB/decade
-40 dB/decade
f
ˆC
I
ˆS
V
max
ˆC
E
ˆC
I
L
ˆC
I
屏蔽
與接
地技
C
R
ViVo
L
(A)帶通(Band-pass)(B)低通(Low-pass)(C)高通(High-pass)(D)帶斥
(Band-stop)
(D)
線路上放置元件以抑制電磁輻射干擾,須考慮下列何者?
(A)抑制元件於 PCB 放置位置與走線效應(B)元件自振頻與濾波特性(C)
元件非理想特性;(D)以上皆是
(A)
請依照下圖所示,試問該圖為何種濾波器類型?
(A)高通濾波器;(B)低通濾波器;(C)帶通濾波器;(D)帶斥濾波器
L11302
被動元件非理
想特性及其頻
率響應效應
(A)
鐵氧體磁芯(Ferrite Core) 一般適用頻段為?
(A)1GHz 以下;(B)2GHz 以下;(C)3GHz 以下;(D)6GHz 以下
(D)
若電路中有一電容接腳過長,下列描述何者正確?
(A)濾波器截止頻率偏移;(B)降低雜訊濾波效果;(C) 共振頻率偏移;(D)
以上皆正確
(B)
非理想的去耦合電容由 RLC 串聯電路所構成,如圖所示,其中 Rs為電容
的等效串聯電阻(ESR)L為等效電感(ESL)C為電容。請問 ESL 變大,
去耦合電容的共振點會?
(A)頻率往高頻移動;(B)頻率往低頻移動;(C)不受影響;(D)阻抗上升
L11303
屏蔽基礎原理
(B)
一平面波由空氣正向入射至一個厚度為 t的平面屏蔽體,如果入射波剛進
入屏蔽體的電場強度為
inc
E
,假設集膚深度為
,忽略多重反射效應,
則穿透電場強度為
inc
E
的幾倍?
(A)
t
e
(B)
( / )t
e
(C)
ln( )t
(D)
ln( / )t
(B)
如果用全金屬機殼保護內部電路但為了散熱挖了一個長度約為 5 cm
開槽,請問下列哪一個頻率最容易從開槽中輻射出去?
(A) 500 MHz(B) 3 GHz(C) 1.5 GHz (D) 4.5 GHz
(B)
對於電磁輻射干擾防護之描述,何者有誤?
(A)利用 PCB 接地抑制訊號間之耦合;(B)導電平面上之槽孔不會影響屏蔽
效果;(C)解耦合電容有效抑制電源供應系統上之雜訊干擾;(D)以上皆是
(A)
若金屬屏蔽體需開孔洞,建議以何種方式最佳?
(A)開多個小洞;(B)開一個大洞;(C)開一狹長孔洞以阻擋金屬上之電流;
(D)開一狹長孔洞的長度等於屏蔽訊號的 λ/2
(A)
有關波阻抗與電磁屏蔽的敘述下列何者正確?
(A) 屏蔽體的厚度比集膚深度厚吸收損失越屏蔽效果越好(B) 近磁
場在低頻時因集膚深度較大,需要厚金屬衰減,對低頻磁場源隔離要改用
低導磁材料做屏蔽;(C) 反射損失是利用屏蔽體與波阻抗的匹配而達隔離
的作用(D) 對於遠場之屏蔽低頻時主要是依賴金屬屏蔽體之吸收損失
高頻時主要依賴此屏蔽體之反射損失
L11304
接地技術
(D)
下列對接地阻抗描述,何者正確?
(A)接地阻抗越低越好(B)接地阻抗會產生雜訊電壓(C) 接地點位置會影
響接地阻抗;(D) 以上皆是
(A)
下列何種狀況,外殼為金屬的機器比較容易累積靜電?
(A)在乾燥的環境中操作並加裝絕緣輪胎的機器;(B)在乾燥的環境中操作
並直接接觸地面的機器;(C)在潮濕的環境中操作並加裝絕緣輪胎的機器;
(D)在潮濕的環境中操作並直接接觸地面的機器
(A)
為解決 EMI 問題,去耦合電容應放置於何處?
(A) 靠近雜訊源;(B)靠近電源供應器;(C)有放即可;(D)放置 PCB 邊緣防
止輻射
(B)
一般高速數位電路設計中所用的去耦合電容(decoupling capacitor)可視為將
整個電路的接地設計成何種接地方式?
(A)單點接地;(B)多點接地;(C)不接地;(D)浮接 (floating)
(D)
在高速數位電路設計中,圍著 IC 的電容牆(capacitor wall)不提供下列何者
功能?
(A)儲存電荷以利高速訊號切換(B)阻擋雜訊從 IC 中流竄出(C)降低電容
的寄生電感效應;(D)減少 IC 的功率損耗
(D)
對於數位電路產生接地彈跳(Ground Bounce)原因,下列何者描述有誤:
(A)產生在訊號轉態時(B)與接地系統等效電感相關;(C)常以解耦合電容
抑制;(D)以上描述皆正確無誤
L12
電磁
相容
量測
原理
L121
電磁
相容
量測
技術
L12101
電磁干擾測試
方法及基本原
(A)
進行 EMC 特性量測,所使用的半電波暗室與全電波暗室,差異在於那個
壁面上,不加裝貼吸波材料?
(A)接地地板;(B)左測;(C)右測;(D)上面
(B)
頻譜分析儀量得訊號功率 -27 dBmW,轉換成電壓約為多少 dBuV
(A) 70(B) 80(C) 90(D) 100
(A)
近場輻射源若以電壓源開路串聯共振輻射,其阻抗與場量為何?
(A)高阻抗、電場(B)高阻抗、磁場(C)低阻抗、電場(D)低阻抗、磁場
(A)
進行電磁干擾測試前,必須先確認測試環境之背景雜訊,其主要目的下列
何者為非?
(A)解決待測物輻射干擾問題;(B)確認環境雜訊不影響測試結果;(C)了解
背景雜訊之符合規定;(D)確認測試儀器功能是否正常
(B)
使用一電流探棒於 100MHz 時其特性阻抗為 15 dBΩ,測量長度 0.5 m
線上的電流,此探棒並以 300 英尺長的 RG-58U 同軸纜線連接至頻譜分析
儀。當頻譜分析儀的讀值於 100MHz 時為 20 dBV,距離導線 3 m 處的輻
射電場強度為何?
(A) 41 dBV/m(B) 39 dBV/m(C) 37 dBV/m;;(D) 35 dBV/m
(D)
每次電磁干擾測試前,必須先進行背景雜訊量測,下列敘述何者有誤?
(A)確認所有儀器正常(B)確認環境雜訊符合規範;(C)確認不影響測試結
果;(D)背景雜訊小於待測物的輻射量即可
L12102
電磁抗擾度測
試方法及基本
原理
(C)
EN 61000-4-6 傳導抗擾度測試標準中,其測試頻率範圍至少須含?
(A) 150 kHz ~ 30 MHz(B) 450 kHz ~ 30 MHz(C) 150 kHz ~ 80 MHz(D)
450 kHz ~ 80 MHz
(C)
傳導干擾/耐受性測試目的為?
(A)了解產品是否有雜訊會傳導出去;(B)了解產品干擾別人程度;(C)了解
產品隔離突波的能力;(D)以上皆是
(D)
在國際標準規範中,電磁輻射干擾測試所使用之電源阻抗模擬網路
(LISN),下列何者是其功用?
(A)離來自外部電源的雜訊(B)阻隔來自待測物的雜訊對外部電源的干
擾;(C)輸入阻抗是 50 Ω(D)以上皆是
(C)
下列關於靜電放電(ESD)測試環境何者有誤?
(A)桌上型待測物須放置於木桌上 (B)待測物下方需使用絕緣墊 (C)木桌上
不可有金屬平面 (D)靜電測試可分為接觸放電與空氣放電
(B)
下列何者是差模傳導輻射的主要來源。
(A)電纜線之間電容性與電感性耦合產生的串音 (B)電源供應器之低頻切
換雜訊;(C)開關元件較高頻的切換雜訊;(D)內部電路的控制元件
(A)
對雷擊突波抗擾測試(Surge)之描述,何者有誤?
(A)主要模擬人體放電影響;(B)測驗模式分為電源線與訊號線;(C)測試為
準為 0.5kV~4kV(D)測試包括正負極性與相位
L122
電磁
相容
測試
儀器
基本
技術
L12201
LISN 之基本特
性要求
(C)
LISN 前端電路(電源端)中使用電感及電容的目的?
(A)串聯電感電容隔絕雜訊(B)並聯電感隔絕雜訊串聯電容轉移雜訊(C)
串聯電感隔絕雜訊,並聯電容轉移雜訊;(D)並聯電感電容隔絕雜訊
(A)
如果使用具有轉換阻抗(transfer impedance)15 dB之電流探測器(current
probe),量測 16 uA 之電流,所讀到的電壓值約為
(A) 90 uV(B) 60 uV(C) 30 uV(D) 10 uV
()
一般傳導干擾測試所使用之人工電源網路(AMN)或電源阻抗穩定網路
(LISN),有關其用途的敘述何者不正確:
(A)取出干擾的高頻信號;(B)阻止供應電源帶進外來的干擾(隔離外界的擾
)(C)FCC 法規與歐 CISPR、或台灣 CNS 標準都要求 LISN 輸出與接
收機之間裝置截止頻率為 150 kHz 的高通濾波器,以避免電源端的諧波影
響;(D)提供待測設備與供應電源之間的阻抗匹配(提供參考阻抗)
(D)
在國際標準規範中,電磁輻射干擾測試所使用之電源阻抗模擬網路
(LISN),下列何者不是其功用?
(A)提供乾淨之 DC/AC 電源品質;(B)阻擋待測件雜訊回饋至電源;(C)
(RF)耦合;(D)阻抗匹配
(D)
如一磁珠(ferrite bead)之電性與磁性參數分別為:ε = 𝜀𝑟𝑗𝜀𝑖 μ=
𝜇𝑟𝑗𝜇𝑖,請問其電阻成分主要來至於那個部分?
(A) 𝜀𝑟(B) 𝜀𝑖(C) 𝜇𝑟(D) 𝜇𝑖
L12202
測試天線之基
本特性要求
()
若天線之 VSWR=3:1,其反射損失(return loss)約為
(A) 6 dB(B) 8 dB(C) 10 dB(D) 12 dB
()
某物體上靜電消失所需之時間,與它的何種特性成正比?
(A) 導電率;(B) 磁性常數;(C) 電性常數;(D) 以上皆是
(D)
下圖為一般執行完整電磁干擾符合性測試的 EMI 接收機內部之預選器
(Preselector)電路,其係為一可獨立分離之單元,以下有關其功能之敘述何
者不正確?
(A)輸入保護;(B)前級放大;(C)鎖定頻譜分析儀本的振盪器之掃描調諧濾
波器;(D)會因此而使動態範圍減小
()
EMI 遠場量測時,量測距離的校正曲線應由 EMI 天線那個參數來校驗?
(A)天線因子;(B)天線增益;(C)匹配阻抗;(D)天線尺寸
(C)
關於近場探棒的敘述,下列何者錯誤?
(A)近場探棒與待測物的距離應小於/6(B)近場探棒的校正以場強對輸出
電壓來表示;(C)電場探棒通常用來偵測從機殼縫隙或電纜排線發射的雜
訊;(D)近場探棒的選用,要權衡靈敏度與精確度
(A)
在輻射電磁干擾測試電波暗室中,四周與地面通常會佈滿吸波材料
( Absorber),其功能為?
(A) 避免暗室內訊號反射干擾(B) 美觀 (C)阻隔外界干擾 (D) 阻隔訊號進
入號角天線
L123
電磁
相容
之測
試場
地特
性要
L12301
測試場地(:
放測試場地、
隔離室、半電
波暗室、全電
波暗室)
(D)
若使用在電波暗室之蜂巢式通風口,其上之方型孔洞寬約 1英吋,在多高
頻率以上之電磁波便可通過此蜂巢式通風口?
(A) 1 GHz(B) 2 GHz(C) 4 GHz(D) 6 GHz
(B)
橫向電波小室由同軸線演變而來,主要是何種原理以及內部為何種電磁
波?
(A)放大器原理,TEM 波;(B)傳輸線原理,TEM 波;(C)電磁波原理,
TM 波;(D)導波管原理,TE
(B)
以下何種環境不適合測試輻射雜訊?
(A)橫向電磁波室(TEM cell)(B)屏蔽室(shielded room)(C)電波暗示
(anechoic chamber)(D)戶外開放場地(open area test site)
(C)
NSA 為正規化場地衰減,則 EMI 測試場地衰減的限制值為何?
(A)NSA2 dB(B)NSA 3 dB(C) NSA4 dB(D) NSA6 dB
L12302
屏蔽效率
(Shielding
Effectiveness)
理與目的
(B)
.若要以屏蔽室(shielded room)阻隔很低頻之電場,主要是依賴此屏蔽室之
何種能力?
(A) 多重反射;(B) 反射;(C) 衰減;(D) 以上皆是
()
屏蔽效益(Shielding effectiveness)定義為何?
(A)入射電場除以穿透電場;(B)入射電場除以被吸收之電場;(C)入射電場
除以反射電場;(D)入射磁場除以入射電場
(D)
對於屏蔽效率測試之描述,何者正確?
(A)頻估測試環境設施或進出孔洞屏蔽效能;(B)常使用連續波浸入(CWI:
Continuous Wave immersion)測試方法;(C)完整設備有天線、訊號產生器
與頻譜分析儀、射頻放大器、以及網路分析儀;(D)以上皆是
(B)
假設被干擾源線段面積為10−3 𝑚2,干擾源磁場密度為10−6 weber/𝑚2,工
作頻率為 100 kHz,求此線段所受感應電壓所需隔離至少為多少 dB
(A)46 dB(B)56 dB(D)66 dB(D)76 dB
L12303
正規化場地衰
減、場地駐波
比、場強均勻
度原理與目的
(C)
如果在 3 m 標準量測到電磁波場強為 40 dBuV/m,那在 10 m 標準應量到
(A) 37 dBuV/m(B) 34 dBuV/m(C) 30 dBuV/m(D) 27 dBuV/m
(D)
場地駐波比目的是了解場地中何種波動現象?
(A)直線路徑波;(B)地面反射波;(C)牆面反射波;(D) 以上皆是
(C)
為符合場均勻度,通過 3NSA 驗證之半電波暗室尺寸建議應為?
(A)3(L)x3(W)x3(H)(B) 7(L)x4(W)x3(H)(C) 9(L)x6(W)x6(H)(D)
5(L)x5(W)x5(H)
(C)
IEC 61000-4-3 輻射耐受標準,輻射、射頻、電磁場抗擾測試,其中執
行均勻場強校正,應以每多少 m為一間隔量測正向功率及場強?
(A)0.6(B)2(C)0.5(D)1
(C)
ISO 靜電測試規範中,待測件進行未供電(UNPOWER)測試,測試件下
面需放罝何種材質
(A)接地點(ground point)(B)隔離墊(isolating support)(C)散逸片
(Dissipative mat)(D)水平耦合板(HCP)
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