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107年公務人員高等考試三級考試試題 代號：37270 全一頁
類科： 測量製圖
科目： 航空測量學與遙感探測
考試時間： 2 小時 座號：
※注意：
可以使用電子計算器。
不必抄題，作答時請將試題題號及答案依照順序寫在試卷上，於本試題上作答者，不予計分。
本科目除專門名詞或數理公式外，應使用本國文字作答。
（請接背面）
一、請說明背向散射（亦稱回波散射，Backscatter）與雷達成像之關係以及地形如何影響
雷達影像強度（Strength）？（20 分）
二、以光達技術或影像技術均能產製三維密點雲（Dense point cloud），試比較此兩種產製
密點雲技術於方法、程序及點雲品質上的異同點。（20 分）
三、在攝影測量任務常使用到控制點，試說明控制點於前述任務中的功能以及如何選定
合適的控制點品質與控制點分布？（20 分）
四、請比較共線方程式與直接線性轉換式相同與相異處，並說明此兩模式用於方位解算
及物點定位任務各自適合扮演的角色及成效。（20 分）
五、請說明為何在進行雙像前方交會計算時，沿著基線方向的像點量測誤差不會反映在
改正數（亦稱殘差，Residual）上？針對前方交會，如何有效修正沿著基線方向的量
測誤差？（20 分）