114年 高普考 普通考試 測量製圖 測量學與土地測量法規概要 試卷

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114年公務人員普通考試試題
類 科
:
測量製圖
科 目
:
測量學與土地測量法規概要
考試時間
:
1
小時
30
分
座號
:
※注意:可以使用電子計算器。
不必抄題,作答時請將試題題號及答案依照順序寫在試卷上,於本試題上作答者,不予計分。
本科目除專門名詞或數理公式外,應使用本國文字作答。
代號:
43620
頁次:
-
一、試述測量工作的三個基本觀測量為何?(20 分)
二、若在平面上量得某一圓的半徑為 40.0 mm
0.05 mm,求其圓周長及其中
誤差為何?(20 分)
三、試述全球定位系統(GPS)的組成?(20 分)
四、請敘述依「土地法」規定之地籍測量辦理程序有那些,以及採用的地籍
測量坐標系統為何?(20 分)
五、請分別敘述「地籍整理」與「地籍管理」的意義,並比較兩者的差異。
(20 分)
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